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金屬硬度檢測儀

描述:金屬硬度檢測儀
里氏硬度原理基于動態(回彈)法,適用于重型、大型或已安裝部件的現場檢測。根據需要自動轉換至所有通用的硬度單位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm);自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL(硬度為 800 HL 時,準確度為 0.5%);測量范圍廣泛,可利用各種沖擊裝置和支撐環來滿足絕大多數的硬度檢測要求。

  • 產品型號:Equotip 550 Leeb
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2024-12-19
  • 訪問量:1416
產品介紹/ PRODUCT PRESENTATION

Equotip 550 Leeb金屬硬度檢測儀

金屬硬度檢測儀性能和優勢:

Equotip 550 是便攜式硬度檢測中功能zui齊全的一體化解決方案。 里氏硬度原理基于動態(回彈)法,適用于重型、大型或已安裝部件的現場檢測。

結合 Equotip Portable Rockwell 探頭,Equotip 550 可使用傳統的洛氏硬度靜態檢測法。 這將能夠在現場自動將 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值。

新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業專家精心設計的界面,提高了檢測效率和改善用戶體驗。 改進的軟件可提供互動向導、自動驗證進程、個性化選項和自定義報告功能。 此外,該儀器可兼容后續開發產品。

全彩顯示屏使您能夠執行高質量的測量和對已測得數據進行分析。特殊設計的外殼適于惡劣的現場使用環境。

迄今為止,Proceq Equotip 已經成為廣泛認可的測量技術和行業標準。 Equotip 裝置*眾多行業對無損硬度檢測的要求。

特色/應用/標準化/技術數據
Equotip Leeb

· 根據需要自動轉換至所有通用的硬度單位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm)

· 自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL(硬度為 800 HL 時,準確度為 0.5%)

· 測量范圍廣泛,可利用各種沖擊裝置和支撐環來滿足絕大多數的硬度檢測要求。

· 每個沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和精確的硬度測試塊,用于定期驗證。


Equotip 550 Touchscreen Unit

· 模塊化概念: 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業應用

· 組合法: 在現場自動將 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值

· 引導向導: 預定義工作流以增強進程可靠性和提高測量精確度

· 自動驗證: 根據 ISO 16859 ASTM A956 逐步驗證

· 互動指南: 通過屏幕通知為您的應用獲取zui相關的設置

· 轉換曲線: 直接在儀器上創建、編輯和驗證轉換曲線

· 自定義報告: 模塊化報告處理器允許自定義測量報告

· 自動選項: 將 NDT 自動操作集成至質量管理系統和自動檢測環境

· 外殼經過特殊設計,可用于嚴苛的現場環境 (IP 54),包括背帶、集成支架和遮陽蓋

· 高分辨率彩色顯示屏

· 電池使用時長 > 8h

· 8 GB 閃存

· 雙核處理器,支持各種通信接口和外圍接口: 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網

· 通過直接兼容后續開發產品,實現未來保障投資

· 里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量,還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測

· 適用于材料挑選、驗收和生產環節檢測

· 適用于重型和大型部件安裝前后的現場檢測

· 方便用于難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地

Proceq 提供一些附件,例如一個測量夾或幾個支撐腳,適合在各種測試件結構上進行手動硬度測量


標準

· ASTM A956 / E140 / A370

· ISO EN 16859(即將發布

· DIN 50156

· GB/T 17394

· JB/T 9378

準則

· ASME CRTD-91

· DGZfP Guideline MC 1

· VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1

· Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36


儀器

· 顯示屏 7" 彩色顯示屏 800 x 480 像素

· 內存:內置 8 GB 閃存(可存儲多達 1000000 個測量值)

· 區域設置 公制和英制單位,支持多種語言和時區

· 電池 鋰聚合物,3.6 V、14.0 Ah

· 電池使用時長 > 8h(標準操作模式下)

· 電源輸入 12 V +/-25 % / 1.5 A

· 重量(顯示裝置) 大約 1525 g(含電池)

· 尺寸 250 x 162 x 62 mm

· zui高海拔 2500 m 海拔高度

· 濕度 < 95?%RH,非冷凝

· 操作溫度 0°C 30°C(32 至 86°F) (正在充電且儀器正在運行)
          0°C 40°C(32 至 104°F)  (正在充電且儀器關閉)
          -10°C 50°C(14 至 122°F) (未充電)

· 環境:適合室內與室外使用

· IP 等級 IP 54

· 污染等級 2

· 安裝類別 2


Equotip Leeb 沖擊裝置

· 測量范圍 1-999 HL

· 測量精度 ± 4 HL(800 HL 時為 0.5 %)

· 分辨率 1 HL;1 HV;1 HB;0.1 HRA;0.1 HRB;
          0.1 HRC;0.1 HS;1 MPa (N/mm2)

· 沖擊方向 自動補償(DL 探頭除外)

· 沖擊能量

· D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm

· DL 探頭為 11.1 Nmm

· C 探頭為 3.0 Nmm

· G 探頭為 90.0 Nmm

沖擊體質量

· D、DC、E、S 探頭為 5.45 克(0.2 盎司)

· DL 探頭為 7.25 克(0.26 盎司)

· C 探頭為 3.10 克(0.11 盎司)

· G 探頭為 20.0 克(0.71 盎司)

球壓頭

· C、D、DC 探頭為碳化鎢,直徑 3.0 毫米(0.12 英寸)

· DL 探頭為碳化鎢,直徑 2.78 毫米(0.11 英寸)

· G 探頭為碳化鎢,直徑 5.0 毫米(0.2 英寸)

· S 探頭為陶瓷,直徑 3.0 毫米(0.12 英寸)

· E 探頭為多晶金剛石,直徑3.0 毫米(0.12 英寸)

操作溫度 –10?C50?C(14 122°F)



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